论文研究一种基于受控线性移位的测试向量生成方法 .pdf 上传者：CSDN阿坤 2020-05-24 16:39:42上传 PDF文件 312.02KB 热度 15次 一种基于受控线性移位的测试向量生成方法，刘铁桥，邝继顺，内建自测试(BIST)作为研究应用最广泛的可测试性设计(DFT)是解决复杂的VLSI测试问题的比较好的方法。BIST方案的关键在于测试向量产生器 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论 CSDN阿坤 资源：19615 粉丝：1 +关注 上传资源 免责说明 本站只是提供一个交换下载平台，下载的内容为本站的会员网络搜集上传分享交流使用,有完整的也有可能只有一分部,相关内容的使用请自行研究,主要是提供下载学习交流使用,一般不免费提供其它各种相关服务! 本站内容泄及的知识面非常广,请自行学习掌握,尽量自已动脑动手解决问题,实践是提高本领的途径,下载内容不代表本站的观点或立场!如本站不慎侵犯你的权益请联系我们,我们将马上处理撤下所有相关内容！联系邮箱：server@dude6.com
