论文研究一种基于受控线性移位的测试向量生成方法 .pdf 上传者：CSDN阿坤 2020-05-24 16:39:42上传 PDF文件 312.02KB 热度 42次 一种基于受控线性移位的测试向量生成方法，刘铁桥，邝继顺，内建自测试(BIST)作为研究应用最广泛的可测试性设计(DFT)是解决复杂的VLSI测试问题的比较好的方法。BIST方案的关键在于测试向量产生器 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
