基于扫描探针声显微镜对SiO2基底上激光损伤的HfO2薄膜物理性质的检测 上传者：shidizaia 2020-02-24 08:19:01上传 PDF文件 721.84KB 热度 19次 基于扫描探针声显微镜对SiO2基底上激光损伤的HfO2薄膜物理性质的检测，程茜，姚文刚，扫描探针声显微镜（SPAM）是一种新型材料性能检测工具，它可以同时地原位地对试样表面和亚表面进行成像，采用不同的探针可探测纳� 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论 shidizaia 资源：470 粉丝：0 +关注 上传资源 免责说明 本站只是提供一个交换下载平台，下载的内容为本站的会员网络搜集上传分享交流使用,有完整的也有可能只有一分部,相关内容的使用请自行研究,主要是提供下载学习交流使用,一般不免费提供其它各种相关服务! 本站内容泄及的知识面非常广,请自行学习掌握,尽量自已动脑动手解决问题,实践是提高本领的途径,下载内容不代表本站的观点或立场!如本站不慎侵犯你的权益请联系我们,我们将马上处理撤下所有相关内容！联系邮箱：server@dude6.com
