CMOS电路结构中的闩锁效应 上传者：lifeandc 2018-12-26 15:11:54上传 PDF文件 435.72KB 热度 75次 CMOS Scaling理论下器件特征尺寸越来越小,这使得CMOS电路结构中的闩锁效应日 益突出。闩锁是CMOS电路结构所固有的寄生效应,这种寄生的双极晶体管一旦被外界条件触发, 会在电源与地之间形成大电流通路,导致器件失效。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
