CMOS电路中的闩锁效应研究 上传者：lifeandc 2019-07-26 21:39:34上传 PDF文件 211.63KB 热度 67次 闩锁效应是功率集成电路中普遍存在的问题。文中分析了CMOS结构中的闩锁效应的起因，提取了用于分析闩锁效应的集总器件模型，给出了产生闩锁效应的必要条件，列举了闩锁效应的几种测试方法。最后，介绍了避免发生闩锁效应的几种方法。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论 lifeandc 资源：5 粉丝：0 +关注 上传资源 免责说明 本站只是提供一个交换下载平台，下载的内容为本站的会员网络搜集上传分享交流使用,有完整的也有可能只有一分部,相关内容的使用请自行研究,主要是提供下载学习交流使用,一般不免费提供其它各种相关服务! 本站内容泄及的知识面非常广,请自行学习掌握,尽量自已动脑动手解决问题,实践是提高本领的途径,下载内容不代表本站的观点或立场!如本站不慎侵犯你的权益请联系我们,我们将马上处理撤下所有相关内容！联系邮箱：server@dude6.com
