详解IDDQ测试 上传者：qq_66106 2024-10-02 23:57:16上传 PDF文件 707.82KB 热度 40次 基于稳态电流测试方法的IDDQ测试，因其故障覆盖率高，在集成电路中测试中得以广泛应用。IDDQ测试的概念比较简单，但实现并不容易，特别是当今SOC和深亚微米技术的影响使得其实现更为复杂，有必要作以全面、系统化的研究。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
