使用空间分解技术减少测试时间的ADC静态测试方案

本文提出了一种用于ADC静态测试的直方图BIST方案。该方案利用时间分解技术和空间分解技术。传统的基于时间分解技术的ADC BIST方法可以降低测试硬件开销，但是它会产生大量的测试时间。对于amonotonic ADC，输出代码具有近似值。与输入信号的比例关系。利用这种性质，提出了一种空间分解技术来减少测试时间。