半导体存储器测试概论

半导体存储器测试概论，主要内容包含：r r t1.存储器测试流程r r t2. Wafer Sort流程r r t3. Assembly流程r r t4. Fianl test流程r r t5. Test item简介r r t6. Continue testr r t7. input leakage testr r t8. out put leakage testr r t等等，详见文档。