基于8051单片机的相位差测试仪技术研究

相位差测试仪是一种用于测量信号波形相位差的关键仪器，其在电子领域具有广泛的应用。本文围绕基于8051单片机的相位差测试仪展开研究与设计，旨在提高测试仪器的性能和精度。在这项研究中，我们将深入探讨相位差测试的基本原理，并结合8051单片机的特性，设计一套高效可靠的测试系统。通过精心选择电子元件和优化算法，我们力求实现对信号相位差的准确测量。通过本研究，希望能够为相位差测试仪的工程应用提供有力的技术支持。