数字系统中与非门逻辑功能及参数测试报告

本报告详细介绍了数字系统中与非门的逻辑功能及参数测试过程。实验使用74LS00芯片进行功能测试，通过图文展示了测试过程中的关键步骤。数字系统广泛应用于通信、计算机、自动控制、互联网、物联网等领域，贯穿着我们日常生活的方方面面。智能手机、数字电视、数码相机、医用心电图仪、CT仪器设备等都是数字技术的生动应用。现代数字电路采用半导体工艺制造，由多个数字集成器件构成。其中，逻辑门是数字逻辑电路的基本单元，而存储器则用于储存二进制数据。总体而言，数字电路分为组合逻辑电路和时序逻辑电路两大类。