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半导体器件ESD测试HBM及静电敏感度分级详解

上传者: 2023-06-30 22:31:28上传 PDF文件 663.37KB 热度 9次

半导体器件的电静电放电(ESD)测试是保证其稳定性和可靠性的重要环节。其中,人体模型(HBM)是一种常用测试方法,通过模拟人体与器件之间的静电放电来评估器件的抗静电性能。本文将详细介绍半导体器件ESD测试的人体模型(HBM)以及不同静电敏感度分级的含义。通过了解HBM测试的原理、步骤和测试条件,可以更好地理解器件的静电敏感性,并采取相应的防护措施,确保器件在实际应用中的可靠性和稳定性。

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