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IC闩锁测试JESD78E中文翻译PDF文件

上传者: 2023-04-07 15:21:58上传 PDF文件 4.13MB 热度 10次

这是关于IC闩锁测试的JESD78E标准的中文翻译PDF文件。闩锁测试是电子元器件测试中的一种重要测试方法,它可以测试集成电路(IC)在工作过程中是否会出现故障。JESD78E标准所规定的测试步骤和参数,帮助用户更好地进行闩锁测试。同时,本文件也包括了JESD78E标准的英文原版,方便用户进行对照查看。如果你想了解更多关于IC闩锁测试的知识,可以查看本文内容或者搜索相关关键词。

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