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VHDL RT级可测性检查和改进

上传者: 2022-07-14 20:25:18上传 RAR文件 154.13 KB 热度 4次

在VHDLRT级综合的基础上,提出了在RT级进行电路可测性检查和改进方法。与一般的可测性分析方法不同,该文不是基于对电路的可控制性和可观察性的量化分析,而是通过检查和改进可测性不佳的局部设计,使得整体电路的可测性得到提升,达到高故障覆盖率。

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