Morgan.Kaufmann.System on Chip.Test.Architectures 上传者：asia4660 2021-05-02 15:58:44上传 APPLICATION/PDF文件 9.94MB 热度 30次 随着SOC的发展,DFT技术越来越受到重视。该书是IC Design for testing(DFT)技术的经典书籍之一。适合DFT工程师和搞IC可测性设计的研究人员。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
