BiAlO3 / La0.67Sr0.33MnO3异质结构的漏电流限制机制和铁电性能

通过脉冲激光沉积技术将BiAlO3 / La0.67Sr0.33MnO3异质结构沉积在LaAlO3(111)衬底上。 X射线衍射测量表明BiAlO3.thin薄膜属于四方相。 在不同温度区域的BiAlO3 / La0.67Sr0.33MnO3异质结构的JeE特性中,分别观察到两种不同的泄漏电流机理,即空间电荷限制电流模型和肖特基发射模型。 通过正向上负向下测量的铁电磁滞回线在750 kV / cm的施加电场下表现出固有的残余极化(2Pr1⁄42.4 mC / cm2),室温下BiAlO3薄膜的厚度为80 nm 。 通过压电响应力得到的域想象和局部压电磁滞回线。显微镜技术进一步揭示了其固有的铁电性。 室温下的BiAlO3薄膜。