锗上等离子体氧化膜的红外吸收光谱 上传者：ringo_rr 2021-04-19 04:25:22上传 PDF文件 4.1MB 热度 33次 在高频激发的氧等离子体中实现了锗的阳极氧化.用IR-450S型红外分光光度计测量了锗上等离子体阳极氧化膜的红外透射比.实验指出,该氧化模靠近870cm~(-1)、560cm~(-1)各有一个红外吸收带.红外吸收数据与Sen和Thorpe的中心力网络模型的振动带边相结合,算出锗氧化膜的Ge-O键伸缩力常数α=439N/m,Ge-O-Ge键角θ=129°. 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
