对数三角形光纤光栅磁场测量性能分析

基于光纤光栅偏振效应的磁场测量系统中, 偏振相关损耗受到光纤光栅结构的影响。以磁场测量的原理为基础, 分析光纤光栅透射谱与系统测量范围和灵敏度之间的关系, 光纤光栅透射谱的斜边带宽和斜率大小分别反映了磁场的测量范围和灵敏度。通过对均匀光栅、相移光栅和对数三角形等光栅结构磁场测量性能的仿真比较, 发现对数三角形光纤光栅具有较宽的偏振相关损耗峰值带宽, 能够有效提高测量系统的实时性。利用重构等效啁啾技术设计制作对数三角形光纤光栅进行实验分析, 实验结果与理论仿真基本吻合, 为测量系统中光纤光栅的选择提供了参考。