GaAs/AlGaAs发光二极管列阵场分布特性的电光测量

应用一种新颖的无损伤测量技术-连续波电光检测法(CWEOP)对GaAs/GaAlAs单异质结发光管列阵电场分布进行了扫描测量.实验结果反映了器件内电流注入的方向和载流子扩展情况;通过比较各单元电场分布,反映器件发光均匀性.文中详细介绍了测量原理、实验装置和实验结果及讨论,最后用计算机对电场分布作了模拟计算并与实验结果进行了对照.