光存储酞菁薄膜的加速老化研究 上传者：czp37476 2021-03-11 21:03:40上传 PDF文件 762.84KB 热度 42次 采用加速老化试验对光存储酞菁薄膜进行了寿命研究,以反射率的变化作为试验的判断依据。在55 °C,85% RH;65 °C,85% RH和 75°C,85% RH的条件下,测试了反射率随时间的变化关系,用外推法估算出光存储酞菁薄膜的自然寿命。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
