如何测量随偏压变化的MLCC电容

设计人员往往忽略高容量、多层陶瓷电容(MLCC)随其直流电压变化的特性。所有高介电常数或II类电容(B/X5R R/X7R和F/Y5V特性)都存在这种现象。然而,不同类型的MLCC变化量区别很大。Mark Fortunato曾经写过一篇关于该主题的文章,给出的结论是:您应该核对电容的数据资料,确认电容值随偏压的变化。但如果数据资料中未提供这一信息又该如何呢?您如何确定电容在具体应用条件下变小了多少? 对电容与偏压关系进行特征分析的理论 图1所示为一种测量直流偏压特性的电路。该电路的是运算放大器U1(MAX4130)。运放作为比较器使用,反馈电阻R2和R3增加滞回。D1将偏置设置在高于GND