在通用自动测试仪上实现SPI 存储器测试的方法研究

摘要:近年SPI 存储器已广泛用于各类电子产品和工业测控系统中,但SPI 属于串行接口,难以使用算法图形产生器自动产生地址,因此难以在通用自动测试仪上进行测试。 本文分析了SPI 存储器的结构特点和测试难点,提出了一种基于并行转串行逻辑的SPI 存储器算法图形自动产生的方法,并以SPI EEPROM 芯片AT25HP512 为例,实现了测试程序开发。实验证实,该方法可以克服SPI 存储器地址算法自动产生的困难,对该类芯片测试具有通用性。 0 引言 串行存储器大多采用I2C 或SPI 接口进行访问,其中以SPI 接口的芯片多,主要包括EEPROM、FLASH memory、FR