利用级数展开的Z扫描理论分析

利用级数展开的方法,对薄介质的Z扫描理论进行了分析,并对于通常所采用的级数展开和菲涅耳衍射分析方法进行了讨论,证明了在分析利用高斯光束对薄介质进行Z扫描测量时,即使对于大的非线性相移,高斯分解方法和菲涅耳衍射积分方法仍具有等效性,澄清了人们认识上的一些误解。同时分析了远场小孔的归一化透射率与积分限的关系,并对采用高斯分解方法时级数求和的振荡原因进行了分析和讨论,给出了消除振荡所需的最小求和数的判据。针对高斯分解方法和菲涅耳衍射积分方法的使用场合,也进行了讨论。根据所得结论,可以在具体的实验和理论分析中,正确地选择更高效的分析方法。