新型门控光子计数法测量高散射介质的光学参量

讨论了一种新型而且简单的门控光子计数法,用来测量高散射介质的光学参量。当一束光脉冲入射到高散射介质后,该方法可以恢复出光脉冲经过散射后从介质表面逸出的波形。与传统的门控光子计数法相比,该方法利用计数器控制门可以移动的特点,通过滑动宽度为60 ns的控制门实现较高的时间分辨力200 ps。在此波形的基础上,Patterson Chance方法可以快速而且准确计算出被测介质的光学参量。在模型介质上的实验,验证了该方法的可行性,实验结果与复杂的时间相关的单光子计数加曲线拟合方法相比较,误差小于10%。