用超短光脉冲测量半导体微波器件的S参数 上传者：qq_21213 2021-02-23 05:14:38上传 PDF文件 876.68KB 热度 44次 描述了用超短光脉冲测量微波器件S参数的基本原理和建立的测量系统。用该系统测量了频率高达36 GHz器件的S参数, 并同网络分析仪的测量结果进行了比较, 一致性很好。该系统测量频率可达100 GHz。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
