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应用激光侧向散射测量粒径分布的理论研究

上传者: 2021-02-22 19:25:17上传 PDF文件 684.34KB 热度 20次
提出一种新型的颗粒测量方法,基于Mie散射理论,从另一独特的视角接收大角度的侧向散射光,并建立新的理论模型,可使测量下限扩展,技术要求有所改善。结合目前已经成熟的半导体激光和CCD技术,运用此原理可使颗粒测量仪器向更轻便、灵敏发展。
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