基于接口参数的列控中心测试用例生成算法

在接口参数两两组合全面覆盖理论的基础上,提出一种基于树型结构的改进测试用例生成算法。该算法综合考虑外部接口参数和取值组合所产生的系统影响,具有一定的通用性及稳定性,并且在时间复杂度及空间复杂度上较以往的算法都有所改进。算法在CTCS2级列控中心的接口测试中取得了很好的效果,测试质量和测试效率均得到提高。