基于斜率传感的平面元件面形检测技术研究

斜率传感的平面元件面形检测是基于光线反射的几何原理和相位测量偏折术方法的光学面形检测技术,它能够快速、简便、准确地测量非球面面形及透射光学元件波前,也称偏折术或逆哈特曼测试系统。推导了平面元件斜率检测公式和面形恢复算法,使用可编码条纹的液晶显示器作为照明光源,四步相移法来识别显示器像素点坐标。针孔摄像机采集被测表面对条纹所成的像,将该系统用于有机玻璃板在加热条件下的面形测量,经计算机处理得到被测表面斜率数据。用方形域内标准正交矢量多项式拟合计算斜率数据得到有机玻璃板面形信息,对面形信息对比分析,然后对有机玻璃板在加压条件下的斜率变化进行了检测,与激光反射法计算的斜率变化结果进行对比。结果表明,