光纤温度传感薄膜探头的设计与实验研究

针对目前光纤温度传感器稳定性及抗干扰性差的问题,研究设计了一种新型光纤温度传感器探头。光纤温度传感薄膜探头是以锗为传感薄膜材料,探头结构采用了双层膜层叠结构,其中低折射率材料是二氧化硅,高折射率材料为锗。其探测原理是根据锗的折射率随温度变化而改变,从而导致了反射率的变化,在实际应用中,通过测量反射功率值达到测温的目的。光纤温度传感薄膜探头具有良好的线性特性,通过实验验证可以得到在测温范围为30 °C~130 °C时,其线性为99.85%。结果表明,得出的结论能够满足光纤温度传感器的线性化的目的。