一种基于高光谱的光学伪装效果综合评价方法

为充分利用高光谱成像技术提供的丰富的光谱信息和纹理信息,对光学伪装效果进行综合评价,提出了一种结合光谱曲线形状相似度、光谱欧氏距离以及纹理欧氏距离的伪装效果综合评价方法。利用绝对关联度、欧氏距离和灰度共生矩阵分别对三类特征进行量化,从形状测度和距离测度两方面综合考量光谱信息和空间纹理信息,求得综合测度。该方法在理论上更加缜密,实验表明综合测度有较好的稳健性,避免了单一测度的不确定性,对伪装器材的设计和使用具有指导作用。