大气压脉冲放电等离子体中N2分子的离解程度分析

利用发射光谱的方法,分析了大气压下脉冲放电等离子体中N2分子的离解程度。N2分子的离解程度与发射光谱中N原子3p(4S0)→3s(4P)(746.8 nm)与N2分子C3∏u→B3∏g(337.1 nm) 谱线强度的比值正相关。实验讨论了放电电压、水蒸汽对N2分子离解的影响。随着放电电压的升高,N原子与N2谱线强度的比值单调增加,0.38~0.91;在水蒸汽存在的条件下,N原子与N2谱线强度的比值明显减小,且强度比值随放电电压升高的趋势也减缓。实验结果表明,提高放电电压有助于N2分子离解;水蒸汽对N2分子离解有抑制作用。