二维光子晶体绝对带隙影响因素的分析

对二维三角形空气孔结构的光子晶体TE模、TM模的禁带重叠区,即绝对带隙的影响因素进行了系统的分析计算,得到其禁带随介电常数的差别还有填充比的变化规律:绝对带隙在r/d(空气孔半径/晶格周期) >0.4时出现,带隙宽度随r/d的增加而增加,到r/d=0.483时达到最大,往后开始减小。其中带隙中心频率值随r/d的增加而增加;把填充比r/d固定在0.483,计算绝对带隙宽度随背景材料的介电常数ε的变化规律发现:绝对带隙在背景材料的介电常数ε>8的时候出现,宽度随ε的增加而增加。