铌酸锂偏振编码器的偏振稳定性研究

偏振编码器的稳定性是影响偏振编码通信的关键因素之一。采用时变矢量对基于铌酸锂(LN)相位调制的偏振编码器的稳定性进行了深入研究。实验表明,LN的偏振相关损耗主态(PPL)与偏振相关相移主态基本一致,说明LN的偏振相关损耗不会影响偏振态的稳定性。实验中观察到偏振态旋转具有“惯性”:使电压从0增加到某个定值,在停止增加后,偏振态会继续变化一段时间,大约在30 min后才达到稳定;相反,使电压从某个定值减少为0,在停止减少后,偏振态仍会继续变化一段时间。该现象对于低速调制将带来不利影响;对于高速调制,平均功率的变化也将引起偏振抖动。