双KTP晶体倍频过程的实验研究——腔外串接倍频 上传者：viganter 2021-02-17 01:22:58上传 PDF文件 662.7KB 热度 55次 双KTP晶体串接倍频可以克服离散效应并补偿相位失配。本文对串接倍频进行了理论分析与实验观测,指出最佳串接方位。理论分析与实验结果符合很好。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
