多路并行探测提高光子计数关联成像质量研究

构建了一种基于多路并行探测提高光子计数关联成像质量的方案, 分析了其成像性能, 并通过数值模拟验证了其有效性。探讨了探测路数、回波信号平均光子数和辐照散斑场的稀疏度对成像质量的影响。数值模拟结果表明, 该方案下的关联成像质量与探测路数成正相关, 随着回波信号平均光子数和辐照散斑场稀疏度的增加, 成像质量先提升后降低。