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半导体激光器参数综合测量法及其应用

上传者: 2021-02-09 14:48:23上传 PDF文件 3.54MB 热度 4次
本文描述一种激光器参数综合测量方法和实验装置,不需移动待测样品,能测量光强-电流特性、近场和远场、激射光谱等激光器参数,以及对器件的结构、发光位置、腔面完整性等进行观察。
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