免疫投影基准光强变化的五步移相算法在条纹投影偏折法中的应用

为了提高条纹投影偏折法对自由曲面的测量精度,通过分析投影到待测面的条纹光强变化形式,推导出一种可以免疫光强变化的五步移相算法,并通过频域傅里叶分析论述了该算法的可行性。数值实验结果表明,免疫光强变化的五步移相算法在基准光强变化1%~5%,杂散光噪声为0.1%~0.5%的情况下,相位计算精度峰值为0.0042λ,均方根值为0.0014λ,在消除离焦影响后,相位计算精度可以达到0.0009λ。与其他移相算法的对比分析,进一步说明了该算法的优势,免疫光强变化五步移相算法在利用条纹投影偏折法测量自由曲面领域有着较高的应用价值。