脉冲激光辐照CCD探测器的热损伤机理

采用扫描电子显微镜和显微拉曼光谱仪研究了受脉冲激光损伤的CCD的形貌和光谱特性。在损伤表面上得到CCD各层的形貌,比较出不同层受激光损伤的先后次序,观察到感光区附近遮光层和多晶硅电极的破坏,研究深入到单个像素尺度;在截面上测得损伤区内部硅材料拉曼光谱特征峰红移,判定内部硅材料发生熔融,并造成表面多晶硅电极和基底短路,解释了CCD受皮秒激光热损伤完全失效的机理。