液晶电光器件相位延迟的二维分布特征的测试

基于1/4波片法,提出了相位延迟的二维分布测试方法。完成了液晶光楔及光寻址液晶空间光调制器(SLM)的二维相位分布测试,得到了两种液晶电光器件的二维相位分布特性的测试结果。编写程序计算得到液晶光楔二维相位分布特性曲线,结果表明:随着测试电压的增大,液晶光楔的顶角θ增大。同理,编写程序计算作出SLM的二维相位等高线图并分析二维相位分布规律。