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开口谐振环阵列在太赫兹波段的谐振特性实验研究

上传者: 2021-02-07 23:14:07上传 PDF文件 1.8MB 热度 13次
实验制备了单元尺寸在微米量级的开口谐振环周期阵列样品,测试了其在0.1~2 THz频段的散射系数,验证了不同极化方向的垂直入射可产生单独的电谐振或同时产生磁谐振的传输特性,验证了材料电导率对样品的谐振频率的影响。结合仿真计算结果,得到了等效的负介电常数和负磁导率随频率的变化关系,及其电、磁谐振频率与谐振环单元尺寸增大倍数k 的关系曲线。实验和仿真均表明,样品的电谐振频率与1/k 线性相关,而磁谐振频率与1/k 成正比关系。
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