陶瓷基复合材料的太赫兹无损检测方法

提出了一种时频域多模式新光谱成像方法, 对内含缺陷的4种陶瓷基复合材料(CMC)样本实现了无损检测, 形成了检测样本的太赫兹图像库, 并引入5个图像质量的客观综合评价指标, 通过指标融合处理选出了质量较佳的太赫兹图像。基于尺度不变特征变换与K均值聚类实现了该图像的检索。实验结果证实, 该方法可有效地对CMC不同位置处的不同宽度缺陷进行成像检测。