基于1553B总线的BU 61580芯片测试系统的设计与实现

 BU-61580芯片测试系统用于检测DDC公司的BU-61580系列芯片的总线协议功能和电气特性,筛选失效芯片,并具备芯片接口时序调整功能,可检验芯片在不同的接口环境和工作方式下的特殊表现。以Windows XP为开发平台,标准VC++为开发工具,针对该芯片设计一套测试系统。PCI总线接口的专用芯片测试卡能够方便的插入待测试的芯片,与之相应的测试系统能够设置芯片的访问时序,测试芯片工作于不同模式下的状态。实际应用表明,该测试系统具有测试界面灵活、简单、准确的特点,满足了用户的要求。