基于轮廓特征的点阵尺寸可溯源测量

工业计算机断层扫描(CT)是对点阵结构增材制件进行尺寸特征检测的有效选择,但目前缺少统一的工业CT尺寸测量误差评价方法,因此首先通过三坐标测量机和孔板标准器实现工业CT尺寸测量误差的评定,然后提出基于轮廓特征的点阵结构周期性尺寸测量方法,最后通过实例验证该方法的有效性。结果表明,该工业CT的最大允许误差(MPE)能够达到±(50+L/400) μm,满足当前检测要求。轮廓特征提取法能够实现点阵结构周期性尺寸特征的测量。