基于掉电数据存储的耐压绝缘测试系统设计

应用非易失性存储芯片24C16 与单片机相连接,设计了一种基于掉电数据存储的耐压绝缘测试系统,详细说明了掉电数据存储的耐压绝缘测试系统的设计思路和硬件电路结构,编写了相应的读写程序。这种串行非易失性存储技术具有高速读写、百万次擦写寿命和数据保存时间长的优点,能极大提高系统的适用范围和系统的测试效率。