基于LM35的高精度温控系统的设计

温度稳定性是仪器仪表制造的一个关键的技术指标,因此设计采用线性较好的温度传感器LM35,通过对传感器、信号放大及AD采样电路的优化,提高温度采样精度,采用高度集成的STM32F103,内置数字PID控制算法,结合PWM控制模式,不仅大大提高温度控制精度,也提高了控制效率,有效地提高仪器仪表测量分析性能。