二阶自相关过程Shewhart 型控制图的性能评价

针对二阶自相关过程, 分别采用有限马氏链内嵌法和积分法给出了Shewhart 型修正控制图和残差控制图平 均运行链长的计算方法, 并通过其数值结果的比较分析, 得到结论: 当自相关过程系数均为正值时, 修正图的性能较 好; 当过程系数均取负值时, 残差图较为适用; 当过程系数符号相异时, 两图性能可采用所给方法具体比较. 该结论为 控制图的选择和应用提供了理论依据.