综合仪器方法解决棘手的系统级测试 上传者：aidiycom 2020-12-23 02:45:27上传 PDF文件 326KB 热度 15次 当今的电子器件和产品在以比以往更快的速度发展,在许多商业应用中,从设计到生产的生命周期缩短到仅有6个月。另外,设备内含和拓扑正从单一向多功能器件转化进而涉及整个子系统和系统,并常常作为单一方案(例如智能电话和iPhone那样的设备)。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
