PCB技术中的利用自动测量提高线路板微通孔成品率

利用自动测量提高线路板微通孔成品率 自从1995起出现各种微通孔技术以来,在批量生产线上业界开始逐渐采用CO2激光、UV/YAG激光以及光成像电介材料等技术,这些新技术导致电路板设计思想发生转变,从以前小心使用0.3mm通孔转为大量使用盲孔和微通孔,尤其在高密度应用场合(如移动电话、计算机、各种板卡和IC封装)。高宽比大于8:1且直径小于0.3mm的孔已越来越常见,特别是在服务器、基板和工作站的电路板上。如何对这类通孔品质进行控制?本文介绍一种自动测量的方法提高产品的成品率。 研究及个人经验表明,大多数HDI产品制造厂商在高宽比大的通孔和所有微盲孔上,缺陷率一般都大于1,00