嵌入式系统/ARM技术中的满足的嵌入式系统电路特性测试需求的JTAG技术

满足的嵌入式系统电路特性测试需求的JTAG技术 http:www.guangdongdz.com 2006-06-23 引言:EEE 1149.1边界扫描测试标准(通常称为JTAG、1149.1或"dot 1")是一种用来进行复杂IC与电路板上的特性测试的工业标准方法,大多数复杂电子系统都以这种或那种方式用到了IEEE1149.1(JTAG)标准。为了更好地理解这种方法,本文将探讨在不同年代的系统开发与设计中是如何使用JTAG的,通过借助过去有关JTAG接入的经验或投入,推动设计向新一代发展。 大多数复杂电子系统都以这种或那种方式用到了IEEE1149.1(JTAG)标准