芯片测试系統規格

1. 200 MHz Clock 測試能力 2. 1.5 ns Rise/Fall Time 5V Swing 3. per-pin 程式化 , 50 歐姆特性阻抗 4. pin count 224 I/O 可擴充至 448 I/O 5. 502M Byte External Pattern Storage 6. 50 ps Edge 解析度, 150 ps 精確度 7. Ethernet & GPIB 介面