基于CPLD的容错存储器的 设计实现

随着各种电路和芯片的性能(速度、集成度等)不断提高,尤其是在军事、航空航天等用途中对可靠性的要求往往是第一位的,人们对于系统的可靠性方面的要求日益增加,这对电路系统的设计和制造都提出了严格的目标要求。 存储器是电路系统中最常用的器件之一,采用大规模集成电路存储芯片构成。实际统计表明,存储器在太空应用中的主要错误是由瞬态错误(也叫单个事件扰动,SEU)所引起的一位错[1]或者相关多位错,而随机独立的多位错误极少。半导体存储器的错误大体上分为硬错误和软错误,其中主要为软错误。硬错误所表现的现象是在某个或某些位置上,存取数据重复地出现错误。出现这种现象的原因是一个或几个存储单元出现故障。软错误主