功能测试:基本概念与技术

作者:Antonio Grassino, Seica S.p.A.董事长 尽管各种新技术层出不穷,如光学与X射线检查、基于飞针或针床的电性测试等,但功能测试依然是保证产品到最终应用环境立刻就能工作必不可少的手段。现代电子产品中内置自测(BIST)应用越来越多,这应该大力提倡,因为它可降低功能测试的成本,但也不能完全消除功能测试。如果应用的场合非常重要(如军事、航空、汽车、交通、医疗等领域),或者最终产品的成本及复杂程度(如电信网络、发电站等)非常高,那么更需要保证产品自身以及与其它系统合在一起时工作正常,这时功能测试将是必须的。 是功能测试 功能测试涉及模拟、数字、存储器、RF和电源